การระดมทุน วันที่ 15 กันยายน 2024 – วันที่ 1 ตุลาคม 2024
เกี่ยวกับการระดมทุน
ค้นหาหนังสือ
หนังสือ
การระดมทุน:
63.9% เพิ่มขึ้น
ลงชื่อเข้าใช้
ลงชื่อเข้าใช้
เพื่อเข้าถึงฟีเจอร์เพิ่มเติม
คำแนะนำส่วนตัว
บอท Telegram
ประวัติการดาวน์โหลด
ส่งไปยังอีเมล หรือ Kindle
จัดการรายการในบุ๊กลิสต์
บันทึกในรายการโปรด
ส่วนตัว
คำร้องขอเพิ่มหนังสือ
น่าสนใจ
Z-Recommend
รายชื่อหนังสือ
ได้รับความนิยมมากที่สุด
หมวดหมู่
การมีส่วนร่วม
บริจาค
รายการที่อัพโหลด
Litera Library
บริจาคหนังสือกระดาษ
เพิ่มหนังสือกระดาษ
Search paper books
จุด LITERA Point ของฉัน
ค้นหาคีย์เวิร์ด
Main
ค้นหาคีย์เวิร์ด
search
1
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns
Springer US
Said Hamdioui (auth.)
fault
port
memory
march
faults
memories
wcfds
2pf2
operations
lrl
wrdf
figure
tests
operation
fps
simulation
1r1
simultaneous
ports
wdrdf
sensitized
drd
realistic
testing
2pfs
ffms
srams
irl
ffm
models
dwl
behavior
defects
owl
detect
ppf2
opens
detected
ipf2
denotes
strategy
column
owo
circuit
shows
divided
xrx
shorts
involving
wtf
ปี:
2004
ภาษา:
english
ไฟล์:
PDF, 6.27 MB
แท็กของคุณ:
0
/
0
english, 2004
1
ติดตาม
ลิงก์นี้
หรือค้นหาบอท "@BotFather" บน Telegram
2
ส่งคำสั่ง /newbot
3
ระบุชื่อสำหรับแชทบอทของคุณ
4
เลือกชื่อผู้ใช้สำหรับบอท
5
คัดลอกข้อความล่าสุดทั้งหมดจาก BotFather แล้ววางที่นี่
×
×